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IV曲线及功率测试,EL测试,电能质量监测,逆变器效率检测

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公司简介

电励士(上海)电子有限公司是专业的光伏电站运维检测设备提供商,隶属于德国GMC-I集团,是集团在中国成立的第二家本地销售和技术服务公司,德国GMC-I和其子公司专注于电测量及能源领域,是仪器仪表行业的百年品牌。其产品生产研发基地遍布全球多个国家,包括德国、瑞士、英国、美国等。GMC集团所持有的品牌有Gossenmetrawatt、GMC-I、Camillebauer、Dranetz、Gossen、ProSys、Cropico、Seaward、Rigel、Clare等。截止目前,其全球员工约1000人。德国GMC光伏测试产品线为光伏行业客户提供优质的光伏电站测试及运维解决方案,从光伏电站组件IV曲线测试,EL测试,组件功率测试,光伏电站绝缘,接地安全测试,到光伏逆变器效率测试,再到光伏并网电能质量监控,我们提供一整套光伏测试解决方案,助力中国光伏测试领域发展。设备包括IV曲线测试仪,电站运维安规测试仪,功率分析仪,电能质量分析仪,白天EL测试仪等。我们的用户遍布主流检测机构,例如上海太阳能工程中心、TUV南德、SGS、BV、CQC、苏州UL、成都光伏质检中心、福建计量院、中科院电工所、中检南方、挪亚、英格尔、航天机电、常州华阳、上海华为、北京鉴衡、湖南红太阳等。

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光伏检测知识

solar testing

I-V曲线校正方法-结果和结论
2024-05-06
 

I-V曲线校正方法-结果说明:

I-V曲线校正方法-结果 

本节旨在分析不同方法对模块ISF-145和KD140GH-2PU测量的户外实验I-V曲线的结果(见 表1)的总结。对于每个模块,我们建立了三个测试集,共有6个表(来自表6-11),这是在将 每个平移曲线的主要电参数与目标曲线的条件进行比较时得到的MAPE。此外,还提供了曲线误 差(%)的平均值。 

在D一节的第3节中。1、当初始条件和目标条件之间的跳跃较小时(包括辐照度和温度) ,当目标条件在测试集统计定义的范围内时,换句话说,验证了G2 2 {min(Gi)、max(Gi)} 和T22 {min(Ti),Z大(Ti)}。当分别使用TEST1a或TEST1b与模块ISF-145或模块一起使用 KD140GH-2PU时,就会出现这些情况。 

第二,在第3节中。2、对所有方法进行比较,但使用TEST2a或TEST2b作为测试集。因此, 必须考虑到初始条件和目标条件之间的更大的跳跃,并且预计会出现更大的误差。 

Z后,3.3分析了TEST3a或TEST3b获得的结果。在这些情况下,我们假设初始I-V曲线和目 标I-V曲线的条件之间有很大的差异(另外,我们还假设G2 {min (Gi), max (Gi)}).此外,这 些测试集的一些曲线受到噪声的影响和/或是不完整的曲线(例如,它们缺少接近短路点的D一个点)。 

3.1.在较小的辐照度间隙下的行为 

对于这两个模块,当初始辐照度接近目标辐照度时(表6和表7),所有方法之间的差异都 很小,特别是在MAPEISC或im.在这些表和下面的表中,对于每个错误度量,Z佳百分比结果和Z差结果将被突出显示。 

很明显,对于小的修正,插值方法H03是迄今为止对电参数的MAPE和曲线误差取得Z好结果的方法。需要强调的是,这种方法以三条I-V曲线作为输入,而其他方法则只采用了一条W一的输入I-V曲线。此外,它可以在不知道任何额外的内在参数或热系数的情况下应用,因此它甚 至可以应用于降解的样品或未标记的器件。 

代数方法在大多数情况下也取得了很好的结果,特别是在MAPE方面PM,所有它们之间的差 异都不显著。但是,如果考虑到曲线误差,可以看出IEC60891:2021[3](及其替代版本)所描 述的过程1(B04)和过程2(B08)是以Zg高保真度再现目标曲线形状的方法。使用IEC 60891: 2021 [3]的程序4(B09)得到了更糟糕的结果。需要强调的是,方法B05是B04的简化版本(在 文献中很常见),在所有只需要热系数a和β的代数方法中,所有制造商提供的方法获得了Z好的结果。方法B02和B03也可以执行非常小的误差(但它们需要比B05更多的参数)。 

一些缩放方法(在表6和表7中用“”标记)提供了直接估计Z大功率的表达式PM(也许还 有其他级别)。这些近似可能比通过翻译完整的I-V曲线所得到的结果更准确。除上述情况外 ,这些缩放方法一般比代数方法表现得更差。周等人。[80]提出了需要提前估计拟合参数x的 A09方法,它考虑了电流对辐照度的非线性,也得到了很好的结果。这个技巧可以通过合并( 式(88))而不是翻译来扩展到任何方法Iph采用经典方法(参见表6-11中标记为“*”的方法 )。然而,对于TEST1(a |b),这种变化并不总是意味着改善,甚至会使结果恶化。此外,x 应该根据实验数据提前确定,这是一个缺点。

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相关的结果是,方法A06实现误差非常低的指标,考虑到它是一个简化版本的著名方法S05 由安德森[4],这只需要ar和βr(相对对应的热系数),可以从数据表。 

如果我们专注于类型C和D的方法(分别基于SDM和DDM),可以看到理想SDM,没有系列阻 力(Rs = 0 W),表现明显比其他模型,因此这个阻力的存在是非常重要的获得一个操作模型 。 

另一方面,其他的寄生电阻(平行电阻Rsh)似乎不那么重要,但它不应该被忽视(否则, 在中的误差ISC可能非常重要)。此外,从C03到C10的微小变化显示了文献中不同的翻译方法 Rsh或接收站对于其他辐照度或温度的条件,不值得考虑,因为很难选择Z好的选择(考虑到 所有的误差指标)。假设两个电阻(B03)都有固定的值可能是一个合理的选择,正如许多作 者所采用的那样,因为辐照度和温度的小校正的变化几乎为零。 

基于DDM(D01~D04)的方法似乎略优于基于SDM的方法,特别是基于七参数DDM的方法。在 任何情况下,这些基于模型的方法(SDM或DDM)的结果比代数方法更差。此外,C类和D类的方 法所要求的执行时间比缩放方法和代数方法高出几个数量级。然而,除了A05和B05之外,代数 方法还需要事先知道某些通常是不可用的参数。 

如果我们继续使用E类(解析)、F类(显式)和G类(迭代)的方法,不同方法的MAPE离散度和曲线误差会更高。使用这些方法获得的一些结果明显比使用以前的方法获得的结果更差 ;例如,方法E04是迄今为止Z差的。这可能是由于,在(式(106))中,用于翻译是在其他条件下,忽略了二极管的理想性因子m。当比较分析方法时,没有一个J对的赢家,但在MAPE方面 PM,Orioli和Di Gangi [61]的E03方法效果Z好。在所有的显式方法中,包括Bai等人由Khan和 Kim [27]提出的方法(F06)所获得的结果。[69](F09),以及克里斯塔尔迪等人。[70](F10 ),后者得到了比Z好的代数方法更好的结果。 

Z后,迭代方法(G型)似乎比以前的方法稍差一些,特别是Villalva等人的方法。[1 6 ] (G 0 1 ) . 此外,该方法和方法G02都没有进行完整的识别,因为它们需要事先知道二极管理想性 因子m的值,这通常是未知的(可以使用晶体硅的通用值m=1.3)。 

3.2.中温度间隙下的行为 

表8和表9显示了初始条件和目标条件之间的温度间隙比前3.1节的大时的误差。同样,IEC 60891:2021 [3]的插值法H03是在MAPE方面取得Z好结果的方法PM和曲线误差,这样它可以是S选的选择,也考虑到它不需要任何额外的参数来使用。 

在代数方法方面,电参数的MAPE值和曲线误差均显著高于插值方法。同样,IEC 60891: 2021 [3]中描述的方法B04(步骤1)和B08(步骤2)是较好的方法(方法B06在IEC 60891 :2009 [46])。方法B02和B03也是一些有趣的替代方案(但D一个方法需要事先知道m。缩放 方法的表现比代数方法略差,但其中一些方法(A05、A06和A10)提供了某些估计误差较低的电参数的直接公式。

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ISF(C型)或DDM(D型)方法将ISF-145模块的误差与KD140GH-2PU模块对应的误差进行比 较,GH-2PU模块的结果显示出矛盾的结果。在D一种情况下,观察到对代数和尺度方法有显著 的改进,特别是对于MAPEPM, im和vm.与前一节一样,似乎假设并行可能依赖于Rsh对G的研究并没有改善结果。即使是一个简单的方法(如C02或D01)忽略这种电性也足以获得良好的结果。 然而,随着温度范围较大,某些建议假定依赖于串联电阻接收站在…上&特克斯和凯科斯群岛 (如C08或C09)可以比其他方法更好地估计PM。 

分析了模块KD140GH-2PU的结果,曲线误差和MAPE误差职业和vm的误差是使用代数方法时 各自误差的两倍。在任何情况下,这一事实都可以被假定为代数方法比基于模型的方法的另一 个优势。与TEST1a和TEST1b一样,使用TEST2a和TEST2b的不同分析方法(E型)的结果取决于情 况,很难选择Z佳的方法。然而,这个家族的方法比插值或代数方法取得的结果更差,因此它们的应用是不值得的。 

如果研究了F型(显式)方法和G型(迭代)方法的结果,可以看出Cristaldi等人的方法 F10。[70]是到目前为止误差Z小的一个,主要是在这方面PM和曲线误差。此外,方法F06)和 F09)仍然代表了非常好的替代方案。其余的方法无法以合理的保真度模拟平移曲线,因此它们 应该在实践中放弃使用。 

3.3.在较大的辐照度间隙下的行为 

在TEST3a和TEST3b下,要进行的修正更具挑战性。根据表10(参考ISF-145)和表11(KD14 0GH-2PU)的结果,改变了S选方法。对于这些集合,报告的误差值非常大:对于大多数方法, MAPE为PM范围在5%到7%之间,曲线误差很少低于5%。研究的不同方法之间的MAPE和曲线误差有显著的分散值,这一事实表明了前面小节中难以看到的方法之间的差异。这样,从这些结果中 ,就很容易识别出表现更好的方法。 

插值方法H03在小的辐照度校正中获得了Z好的结果,但它并不是这些测试集的Z佳选择 。这样做的主要原因是,该方法的这种目的是执行插值,在这种情况下,总是执行外推,因为 G2(目标辐照度)在可用初始曲线的辐照度值集之外。在所有的缩放方法(A型)中,表现出Z佳行为的方法(考虑到两个PV模块上的所有误差指标)是A02、A06和A09。再次,我们应该强调 的是,对于大的辐照度修正,Z简单的方法之一A06取得了足够好的结果(它只需要从数据表中 的参数),其结果明显优于使用IEC 60891:2021 [3]中提出的代数方法。在大辐照度修正的情 况下,直接估计PM似乎会比整个翻译过程导致更大的错误。另一方面,所有代数方法的结果都 比尺度方法差,其中A01和A03是Z好的。 

基于单二极管模型双二极管模型(分别为C型和D型)的方法并没有得到比Z佳尺度方法 更好的结果。然而,合并(式(88)),而不是翻译Iph在经典的方式下,导致了明显的改进, 特别是在估计方面ISC以及曲线误差(参见表10和表11中标记为“*”的方法)。这一事实是由 于x,它解释了辐照度修正的非线性。

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在所有的分析方法(E型)中,Toledo和Blanes [63]提出的方法E05性能Z好,但Z惊人的是De Soto等人使用E04方法取得了Z好的结果。[62],因为当进行小的辐照度校正时,该方 法在以前的测试集中获得了非常糟糕的结果。事实上,与其他方法Z相关的差异是(式(106)) ,其中二极管理想性因子m对于(式(77))被去除。这个问题需要进一步的研究来理解。在任 何情况下,当将该方法与(式(88))结合时,得到了方法E10,它在所有误差度量上都大大优于大多数方法。 

对于F型和G型(分别为显式和迭代)方法,结果的分散比之前的测试集更明显,很难区分 获胜的方法,因为结果根据研究的模块而不同。一方面,考虑到模块ISF-145的结果(表10), Z好的方法似乎是Cubas等人的F04。[66],F12托莱多和车道[72],F13巴泽利斯和帕帕塔纳努 [93]。另一方面,对于模块KD140GH-2PU(表11),使用Phang等人的F02方法,误差Z小。Khan 和Kim [27]的[25],F06,Bai等人的F09。[69].此外,如果采用(公式(88))(假设我们有 一个很好的x估计),这些结果可以得到改进。似乎所有这些方法都是很好的候选方法,但必须 考虑到,即使P的MAPE很可能会高于3%,即使我们成功地选择了Z合适的方法。在任何情况下, 以前引用的方法都会比经典的缩放方法或代数方法表现得更好,后者的P误差很少小于5%。 

4.I-V曲线校正方法-结论 

所进行的少数实验(使用晶体硅技术的两个商业光伏组件的三个测试数据集)不足以确定所研究方法的一般准确性,更不能给出哪一种是Z佳方法的明确结论。然而,考虑到其低MAPE 和曲线误差,IEC 60891:2021 [3]中描述的过程3(方法H03)是一个很好的选择,在三个初始曲线条件描述的三角形内,这意味着需要进行插值(而不是外推)。此外,该方法不需要知道任何额外的参数或热系数。 

如果不可能满足应用方法H03进行真实插值的要求,则有必要放弃该方法,选择一种代数或缩放方法。根据本文报告的结果,Z好使用更简单的信息的方法(例如,A06或B05),因为 更复杂的方法改进的结果很少,需要估计某些难以确定的参数(如m或Rs)。 

在应用这些翻译方法之前,应该分析该方法是否值得使用。当需要校正的辐照度或温度间 隙很大时,主要电气参数的估计误差也会很高,根据目的的不同,这一事实可能是一个重要的 缺点。例如,如果定期对光伏组件进行户外测量,以量化其退化,所有测量值都应转换为辐照 度和温度的共同参考条件。然而,用于执行此校正的方法应该包含一个足够小的误差,从而不 会掩盖模块的潜在退化率。 

Z后,不可能(特别是在现实的室外条件下)在实验过程中确保样品的等热条件。因此, 有必要考虑到存在与温度测量有关的不可避免的不确定度来源,这必须添加到所研究的每种方 法所固有的不确定度中。


链接:IEC60891和其他温度和辐照度校正程序与光伏器件I-V特性的比较

  • 光伏电站测试一般会用到哪些仪器仪表?
    2024-05-11
      

    德国专业光伏电站测试设备,太阳能组件检测仪器,光伏电站运维仪表生产商--德国GMC-I高美测仪提供完整的关于光伏测试的完整解决方案,并提供专业的技术咨询和售后服务。光伏电站测试一般会用到哪些仪器仪表?总的来说,一般会有如下的测试设备需求:

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    光伏电站IV曲线测试仪Profitest PV

    主要功能:

    测量户外不同温度和辐照度条件下组件的功率、开压、短路电流以及Z大功率点电压电流并转化为STC标准条件下数据,同时能够通过算法计算出串联电阻Rs,方便查找组件以及组件连接问题。

    应用场景:

    光伏系统污渍和灰尘遮挡损失

    光伏阵列温升损失

    光伏组件功率衰降

    光伏系统串并联失配损失

    白天EL检测系统DaySy  

    主要功能:

    可以在白天独立工作的EL检测系统,每周7天,每天24小时

    支持的PV技术类型:c-Si,CIS,和a-Si

    图像稳定

    先进的组件检测界面

    完整的光伏组串检测,Z大到1000V 10A

    组件直接供电或是直流电源供电操作使用

    锁像热成像选项

    应用场景:

    检测光伏组件的内部缺陷、隐裂、碎片、虚焊、断栅以及不同转换效率单片电池异常现象

    光伏逆变效率测试仪LMG671

    主要功能:

    仪器精度不受功率因数影响

    1-7通道可选,目前市场上通道数和精度Z高的产品

    电流传感器可以由主机供电,方便现场操作

    250V/400V/600V/1000V档位设定,测试精度更高

    多种滤波器设定可调

    为客户量身定制的适用于电站现场测试的传感器

    应用场景:

    光伏逆变器效率测试,升压变压器效率测试,电能质量测试

    光伏电站并网电能质量测试仪MAVOWATT系列

    主要功能:

    依据CGC/GF003.1:2009验收标准,需要对逆变后电能质量进行测量,并满足国家电能质量标准。

    测试方法:

    断开连接,测量电网电能质量

    连接后测量并网前电能质量。Z终判断逆变后电能质量是否合格。

    光伏安规测试和IV曲线测试SolarLink Test Kit PV150/PV200

    主要功能:

    按照IEC62446-1:2018《并网光伏系统 系统 文件、试运行测试和检查的Z低要求》标准进行测试

    测试项目:

    极性测试

    绝缘测试、

    接地保护导体的连续性测试

    开路电压和短路电流测试

    功能测试,同时记录辐照度,温度,角度等参数

    IV曲线测试(PV200适用)

  • 如何从光伏组件IV特性曲线中发现问题根源?
    2024-05-13
      

    当我们测试光伏组IV曲线时,有故障的组件可以通过IV曲线的问题反映出来即光伏组件IV曲线问题,常见的IV曲线异常情况包括:低电流,水平腿陡坡(斜率增大),阶梯(凹陷),竖直腿浅坡(斜率减少),低电压等,从曲线异常可以看出组件的哪些潜在光伏组件IV曲线问题呢?

    如何通过组件IV曲线测试发现组件问题_14

    IV曲线异常原因

     1.低电流产生原因:

    光伏阵列脏污、污垢,光伏组件劣化,使用的辐照度读数不准确;
    2.水平腿陡坡(斜率增大)产生原因:

    pv电池中的分流路径,pv电池连接中的分流路径,组件lsc不匹配;
    3.阶梯(凹陷)产生原因:

    阵列或组件局部遮挡、污渍,阵列的连接阻值大,组件串联电阻增加;
    4.竖直腿浅坡(斜率减少)产生原因:

    组件串联电阻增加,组件或阵列互连处故障,光伏配线损坏或故障;
    5.低电压产生原因:

    旁路二极管故障,组串明显的、均匀的遮挡,电势诱导衰减(PID);

  • 光伏组件IV曲线测试仪常见使用问题汇总
    2024-05-15
      

    1、光伏组件I-V曲线测试的是什么参数?

    太阳能光伏电池或组件产生的电能是电流(I)和电压(V)特性的函数。在改变连接到PV电池或组件上的电力负载的同时,测量电流和电压之间的关系,得出的伏安特性曲线(I-V)如图所示。曲线与电流和电压轴的交接点分别表示短路电流Is/c和开路电压Vo/c。

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    光伏IV曲线测试仪使用

    电能功率是电流和电压的乘积,所以通过测得的电压电流数据可以生成功率与电压的函数曲线如图所示。功率电压函数曲线显示出在哪个点功率Z大(Pmax)。在I-V曲线中显示了对应的Z大功率点Mpp。在Impp电流和Vmpp电压下运行PV组件将产出Z大功率。
    2、STC是什么,为什么它很重要?

    所有PV组件上都有标明其性能的相关信息铭牌,包括开路电压Vo/c,短路电流Is/c,Z大功率点的电压和电流(VmppandImpp)以及Z大功率Pmax。在生产PV组件时,厂家就是根据伏安特性曲线的测量(I-V)来检测和标定其额定M牌数值。 PV组件产生的电压和电流跟辐照水平,辐射光谱含量以及组件温度相关。如果PV组件的额定M牌要想有意义,我们需要知道是在测量结果的测量条件。
    生产厂商要在辐照度为1000W/m2,模温在25℃以及使用AM1.5的等效辐射源的标准条件下(STC)测量其额定铭牌的相关数值。如果我们想要直接比较现场实测和额定铭牌上的性能数据,测量结果需要转化成STC下的数值。这种转化需要知道测量时的辐照度和PV组件温度。
    3、PV组件温度传感器需要安装在什么位置?
    IEC61829光伏发电阵列_I-V特性的现场实测建议,带有扁平导线的平板热传感器需要安装在组件后板的中间位置。热传感器必须距离接线盒10cm以上,安装方式不能改变PV组件温度。
    可以使用红外测温仪来测量PV组件温度吗?红外线温度测试装置的精度会受被测物表面的辐射率(红外发射能量)的影响。只有在根据PV组件后板辐射率进行过校正,温度测量精度达到±1℃(根据IEC61829:2015)的情况下才能使用红外测温仪。
    4、太阳光辐照度计应该安装在什么位置?
    为了确保采集的数据是有意义的,光
    辐照度计在待测PV系统上的正确安装是很重要的。改变参考电池与阳光之间的夹角对辐照度的测量结果的影响是显著的。辐照度计的安装平面需与光伏组件平面平行,角度出保持在±2°以内。辐照度计的安装还必须保证它不会遮挡到待测光伏组件的任何部位。要想获取准确而具有可重复性的测量结果,Z好将辐照度计机械式地固定在光伏组件框架上。
    5、在低辐照条件下可以进行I-V曲线测量吗?
    I-V曲线形状会随辐照度而变化,若低于临界辐照水平,曲线形状会发生巨大变化。这将造成对系统性能的错误评估。在低辐照水平下进行测量,很可能会产生不良的测量结果。
    光伏串和阵列的性能测量需要在稳定辐照条件下进行,并且阵列平面的辐照度数值要在400Wm2以上。在测量结果进行STC转化时,IEC61829:2005光伏阵列-现场I-V实测建议要求总平面辐照度至少达到700W/m2。
    6、在I-V曲线测量时如果辐照度变化会发生什么?
    理想情况下,I-V曲线测量应该在几乎无风的晴朗天气进行。辐照度的变化将会引起PV组件的温度变化从而影响I-V曲线的测量精度。在测量开始前,如果辐照度显著增加,那么PV组件温度就不会稳定下来。I-V曲线测量过程中的辐照度变化会影响I-V曲线形状。然而,现实情况是时间和标准限制了测量执行的时间。I-V曲线测量应该在Z可能的稳定条件下进行,并且应该记录下辐照度和PV温度的变化。如果辐照度的变化改变了I-V曲线的形状,那么就要进行重新测量。
    7、I-V曲线检测的好处是什么?

     功率是电流和电压的乘积,所以任何可能减小电流或电压的变量都将导致功率的降低。I-V曲线形状或轮廓为PV组件或串的性能提供一个高效的可视化的检测。实时功率监测系统提供了实际发电量的指示,然而,如果实际产量小于设计数据,那么他们提供不了任何信息,必须使用其它测量工具来识别PV系统性能不足的根本原因。如果在测量时,安装好的光伏阵列的I-V曲线显示出斜率的显著变化,曲线形状出现“驼峰”或变化,那么就表明单个或多个独立组件出现了问题。  在安装或试运行或定期检查过程中,进行I-V曲线评估和系统测试可以帮助验证是否所有组件都是健康的,并且是在其指定参数下稳定工作。
    8、光伏I-V曲线测试为什么重要?
     I-V曲线为获取太阳能光伏组件或阵列的性能提供了一个快速而有效的方式。对于一个良好工作的光伏系统,曲线形状应该符合正常轮廓,并且Is/c,Impp,Vo/c,Vmpp和Pmax的测量值应该符合在其测量条件下的预期。作为生产流程的一部分,组件在辐照度1000W/m2,模温25℃和AM1.5的标准条件下(STC)进行测量。I-V曲线数据测量的同时测得的辐照度值和模温可被用来将现测I-V曲线转化成STC下的结果。转化后的结果就可用来和额定铭牌上的数值进行直接对比。在工厂阶段,测试是用来识别任何制造问题,并验证特定组件的功率等级,以将其包含在产品数据表和规格中。一旦组件或阵列已被安装在现场,I-V曲线监测可用来验证新系统的输出的实际功率是否接近于预期值。 如果存在差别,I-V曲线的形状分析可用来识别性能不佳的根本原因,并采取补救措施。
    9、光伏I-V曲线测试只在安装过程中有用吗?
    不,随时间推移,定期I-V曲线测试是检查系统性能恶化的高效方法。它可以用来识别并定位组件或线缆问题,并将发电性能和先前的性能数据或产品质保数据进行比较。I-V曲线测量也可以,并演示组件清洗后的性能改善效果。
    10、光伏PV填充因子是什么?
    填充因子(FF)是实际获得的Z大功率,图中蓝色区域表示,与产品短路电流Is/c和开路电压Vo/c乘积的比例,图中淡蓝色区域表示。填充因子本质上是衡量PV组件效率的方法,理论Z大值取决于组装光伏组件所用硅的类型等因素。然而,预期值的偏离或填充因子的变化可以显示出错误的发生。

    填充因子

    组件I-V特性检测仪操作

    11、光伏辐照度和温度如何影响I-V曲线?
    光伏PV组件的性能受多个因素的影响,其中包括温度和辐照度。PV组件的开路电压Vo/c随着电池元件温度的变化而变化,随着温度的升高,由于环境的变化或在发电过程中产生的内部能量损耗,开路电压Vo/c将会降低。这反过来导致输出功率的降低。太阳能光伏系统的设计必须考虑到光伏组件的温度系数,比较运行环境下电池板的预期平均温度和STC下的数据来计算组件输出。 同样的道理,辐照度也会影响组件性能,光照的减少首先会导致电流的减小,从而必然导致输出功率的降低。
    12、 
    光伏测试仪I-V曲线监测的典型问题有哪些?--IV曲线测量设备问题
    对于一个特定的组件或租串,其曲线形状和填充因子间的差异可以表明产品质量,功率性能或光伏系统安装上的问题。安装上的重要问题会对期望的I-V曲线产生影响,包括组件腐蚀和阴影,高线阻或组件间的连接问题和生产或规格差异或光伏电池损坏所造成的组件不匹配问题。
    iv曲线测试仪可当作一个诊断工具来识别,定位和修正所有这些问题。
    13、光伏I-V曲线测试仪是如何工作的?
     I-V曲线测试仪是一种专用设备,它可以扫描连接到太阳能光伏组件或组串上的电子负载,并可以在扫描过程中对电流和电压进行多点测量。一组电流电压数值用来直接绘制I-V曲线或者计算并绘制P-V曲线。
    为了抵消外部因素如温度和辐照度的影响,I-V曲线监测仪测量和记录辐照度和温度,使得测量结果可以进行STC转换,以确保和PV组件规格进行准确对比。 一些I-V曲线测试仪仪也可以连接PV组件的资料库从而使现场测量值可以即刻与制造商的标称值进行对比,来验证所安装系统的系统的正确性。
    14、 I-V曲线监测仪如何与其它太阳能光伏调试和定期检测仪器协同工作?
    太阳能光伏系统的安装不仅包括安装时的性能与效率测试,还包括系统是否正确安全接线的检测。这些测试应该定期进行以确认运行时的安全性和性能表现。“IEC62446:2016GridconnectedPVsystems”定义了太阳能光伏系统文件,调试和监测的Z低要求。尽管这是非强制性的,但各国也已在其国家认证计划中采纳了IEC62446:2016的原则,其中包括英国的MCS。总的来说,该标准规定了提供给客户的在太阳能光伏系统安装后的测试,信息和文件,以及初期(定期)的电力监测和测试要求。在调试过程中至少要进行的必要性测试包括接地连续性测量,开路电压,短路电流,绝缘和辐照度。I-V曲线监测也可以添加进这个列表来获得已安装系统的性能特性。

    15、光伏组件IV曲线测试仪PV200如何进行IV曲线测试?

    新版IEC62446标准解读文库版_10

    组件I-V特性检测仪操作

    光伏PV200测试仪伏安特性曲线监测,PV200为PV系统提供了一种高效、有效的测试和诊断解决方案,实现了IEC62446:6所要求的所有调试测试,并根据IEC61829:2015的标准对I-V曲线进行快速和准确的测量。当与SolarSurvey200R辐照度计结合使用时,PV200的测量数据可以被转换为STC下的曲线,使用PVMobile应用或SolarCert元素软件,允许直接与PV组件制造商发布的数据进行比较。